在充電接口(如Type-C、USB-A)的可靠性檢測(cè)中,插拔壽命是核心指標(biāo)之一,需模擬萬(wàn)次以上插拔場(chǎng)景驗(yàn)證耐用性。傳統(tǒng)人工測(cè)試易受操作習(xí)慣、體力狀態(tài)等因素影響,誤差率常達(dá)8%-15%,而充電接口插拔壽命試驗(yàn)系統(tǒng)通過(guò)自動(dòng)化與標(biāo)準(zhǔn)化設(shè)計(jì),能大幅降低誤差,保障測(cè)試數(shù)據(jù)精準(zhǔn)性。?
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